research/PSBoardDataBase
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new: create tables & add campaigns, runs, ps_boards, single run results

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Wataru Otsubo 2024-09-12 20:26:38 +09:00 • committed by qwjyh
commit eba8d8f395
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87
test/input/PS board QAQC Data Base - RUNLIST.csv Normal file
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@ -0,0 +1,87 @@
Campaign ID,Run ID,Shifter name,is standard run,comment
1,38,Izumiyama,TRUE,Station1 が開始10分くらいで落ちた。
1,39,Izumiyama,TRUE,Run 38 後に station1 系統を再起動して、1回試験を再度試した
1,40,Izumiyama,TRUE,Run 39 の long run
1,51,Hashimoto,FALSE,Only Clock試験を実施
1,55,Otsubo,FALSE,PSBoardの電源を入れていなかった。Efficiency 99%のステーション/JATHub依存性を調べるために、まず問題の再現を100回試験で試す。
1,56,Otsubo,FALSE,Efficiency 99%のステーション/JATHub依存性を調べるために、まず問題の再現を100回試験で試す。
1,57,Otsubo,FALSE,問題が再現され、特定のASICのチャンネルで問題が見られることから、シグナルケーブルを上下でスワップして再度走らせる。
1,58,Sube,FALSE,PS000206でauto_reconfigが1にならないため、SDを再度培養して1回試験を走らせる。
1,59,Sube,FALSE,PS000206でauto_reconfigが1になることを確かめられたため、再度100回試験を走らせたが、途中で停電のため停止。
1,60,Sube,FALSE,PSB電源入れ忘れのためストップ
1,61,Sube,FALSE,PSBIDミスのため、試験開始前にストップ
1,62,Sube,FALSE,"停電復旧後、PS000206,PS000076,PS000221,PS000135で試験"
2,66,hashimoto,TRUE,QA/QC第1弾でFirmwareだけ書いていた新規ボードのソフトウェア試験と、ASDスワップ試験
2,67,hashimoto,TRUE,QA/QC第1弾でFirmwareだけ書いていた新規ボードのソフトウェア試験と、ASDスワップ試験のlong run
2,68,sue,TRUE,ソフトウェアリセット修正版のFirmware試験(2024_7_31.svf)
2,69,sue,TRUE,ソフトウェアリセット修正版のFirmware試験(2024_7_31.svf)のlong run
2,70,kondo,TRUE,"ソフトウェアリセット修正版のFirmwareだとLockがかからないので、
元のFirmware(2024_7_23.svf)に戻したlong run"
2,71,sube,TRUE,"ソフトウェアリセット修正版のFirmwareだとLockがかからないので、
元のFirmware(2024_7_23.svf)に戻した1回試験。以降は、2024_7_23.svfで実施"
2,72,sube,TRUE,通常の1回試験
2,73,sube,TRUE,Run ID 73後の通常の100回試験
2,74,sube,TRUE,B-0-8でSFP入れ間違い
2,75,sube,TRUE,通常の1回試験
2,76,sube,TRUE,Run ID 75後の通常の100回試験
2,77,hashimoto,TRUE,ミス
2,78,hashimoto,TRUE,通常の1回試験
2,79,hashimoto,TRUE,ミス
2,80,hashimoto,TRUE,Run ID 78後の通常の100回試験
2,81,sube,TRUE,通常の1回試験
2,82,sube,TRUE,Run ID 81後の通常の1回試験
2,83,kondo,TRUE,通常の1回試験
2,84,kondo,TRUE,Run ID 83後の通常の1回試験
2,85,makita,TRUE,通常の1回試験
2,86,makita,TRUE,RUN ID 85後の通常の100回試験
2,87,makita,TRUE,通常の1回試験
2,88,makita,TRUE,RUN ID 87後の通常の100回試験
2,89,Kondo,FALSE,"B-0-3, B-1-3, B-0-2, B-1-2はDAC=0のみ。B-0-7, B-1-7, B-0-9はinvalid register valueのみ。"
2,90,Sube,FALSE,89のlong run
2,91,hashimoto,FALSE,ミス
2,92,hashimoto,FALSE,ミス
2,93,Sube,FALSE,90のASD swap (B-0-7でPP1-4と5-8をswap)
2,94,Kondo,FALSE,追試（1回試験）
2,95,Kondo,FALSE,追試（100回試験）
2,96,Kondo,FALSE,PSB198のメザニンをNo.998→No.86に載せ替え
2,,Hashimoto,FALSE,いろんな追試ボード試験: 1回
2,97,Hashimoto,FALSE,いろんな追試ボード試験: 10000回
3,98,otsubo,,通常の1回試験 のつもりがSDカード（B-0-8）のパーティションテーブルが読めなくなりスレーブのlogが消えた→後に復旧し、log抽出済み
3,99,otsubo,,通常の100回試験 のつもりが10000回試験になっていて、途中で止めた。240回ほど回した のつもりがSDカード（B-0-8）のパーティションテーブルが読めなくなりスレーブのlogが消えた→後に復旧し、log抽出済み
3,100,tagami,,通常の1回試験
3,101,tagami,,ミス
3,102,tagami,,通常の100回試験
3,103,tagami,,通常の1回試験
3,104,tagami,,通常の100回試験
3,105,tagami,,通常の1回試験
3,106,tagami,,通常の100回試験
3,107,tagami,,通常の1回試験
3,108,tagami,,通常の100回試験
3,109,makita,,ミス
3,110,makita,,B1-1のGNDをきちんと接続した（PSBIDはB1-1以外てきとう）
3,111,makita,,CP11とCP12をスワップ（PSBIDはB1-1以外てきとう）
3,112,makita,,ASDをB1-1であまっていたASDと交換→直った！
3,113,makita,,ASDのスワップを元に戻して検証（差し直しor悪いASDがいるを切り分け）→直った。差し直しで改善はするが差し直しごとに悪くなりがちなやつがいる。このASDの組はつかわないようにする。ラベルしておいた
3,114,makita,,ミス
3,115,makita,,ASDを改善して再度108の100回試験を行う
3,116,tagami,,通常の1回試験　のはずがB-1-7が試験開始しないバグ発生、やり直し
3,117,tagami,,通常の1回試験（station 1 JatHubのパワーサイクル、B-1-7のリカバリーLED確認）
3,118,tagami,,通常の100回試験
3,119,tagami,,ミス
3,120,tagami,,通常の1回試験
3,121,tagami,,通常の100回試験
3,122,kmaki,,通常の1回試験
3,123,kmaki,,ミス
3,124,kamki,,通常の100回試験
3,125,tagami,,ミス
3,126,tagami,,通常の1回試験
3,127,tagami,,通常の100回試験
3,128,tagami,,通常の1回試験
3,129,tagami,,通常の100回試験
3,130,mizuochi,,通常の1回試験
3,131,mizuochi,,通常の100回試験
3,132,tagami,,1回試験追試。メザニン交換5台＋clock test fail+power fail+健康なもの×3
3,133,tagami,,100回試験追試。メザニン交換5台＋clock test fail+power fail+健康なもの×3
3,134,mizuochi,,ミス
3,135,tagami,,clock skew測定用試験 B-0-1
3,136,mizuochi,,clock skew測定用試験 B-1-1
1 Campaign ID Run ID Shifter name is standard run comment
2 1 38 Izumiyama TRUE Station1 が開始10分くらいで落ちた。
3 1 39 Izumiyama TRUE Run 38 後に station1 系統を再起動して、1回試験を再度試した
4 1 40 Izumiyama TRUE Run 39 の long run
5 1 51 Hashimoto FALSE Only Clock試験を実施
6 1 55 Otsubo FALSE PSBoardの電源を入れていなかった。Efficiency 99%のステーション/JATHub依存性を調べるために、まず問題の再現を100回試験で試す。
7 1 56 Otsubo FALSE Efficiency 99%のステーション/JATHub依存性を調べるために、まず問題の再現を100回試験で試す。
8 1 57 Otsubo FALSE 問題が再現され、特定のASICのチャンネルで問題が見られることから、シグナルケーブルを上下でスワップして再度走らせる。
9 1 58 Sube FALSE PS000206でauto_reconfigが1にならないため、SDを再度培養して1回試験を走らせる。
10 1 59 Sube FALSE PS000206でauto_reconfigが1になることを確かめられたため、再度100回試験を走らせたが、途中で停電のため停止。
11 1 60 Sube FALSE PSB電源入れ忘れのためストップ
12 1 61 Sube FALSE PSBIDミスのため、試験開始前にストップ
13 1 62 Sube FALSE 停電復旧後、PS000206,PS000076,PS000221,PS000135で試験
14 2 66 hashimoto TRUE QA/QC第1弾でFirmwareだけ書いていた新規ボードのソフトウェア試験と、ASDスワップ試験
15 2 67 hashimoto TRUE QA/QC第1弾でFirmwareだけ書いていた新規ボードのソフトウェア試験と、ASDスワップ試験のlong run
16 2 68 sue TRUE ソフトウェアリセット修正版のFirmware試験(2024_7_31.svf)
17 2 69 sue TRUE ソフトウェアリセット修正版のFirmware試験(2024_7_31.svf)のlong run
18 2 70 kondo TRUE ソフトウェアリセット修正版のFirmwareだとLockがかからないので、 元のFirmware(2024_7_23.svf)に戻したlong run
19 2 71 sube TRUE ソフトウェアリセット修正版のFirmwareだとLockがかからないので、 元のFirmware(2024_7_23.svf)に戻した1回試験。以降は、2024_7_23.svfで実施
20 2 72 sube TRUE 通常の1回試験
21 2 73 sube TRUE Run ID 73後の通常の100回試験
22 2 74 sube TRUE B-0-8でSFP入れ間違い
23 2 75 sube TRUE 通常の1回試験
24 2 76 sube TRUE Run ID 75後の通常の100回試験
25 2 77 hashimoto TRUE ミス
26 2 78 hashimoto TRUE 通常の1回試験
27 2 79 hashimoto TRUE ミス
28 2 80 hashimoto TRUE Run ID 78後の通常の100回試験
29 2 81 sube TRUE 通常の1回試験
30 2 82 sube TRUE Run ID 81後の通常の1回試験
31 2 83 kondo TRUE 通常の1回試験
32 2 84 kondo TRUE Run ID 83後の通常の1回試験
33 2 85 makita TRUE 通常の1回試験
34 2 86 makita TRUE RUN ID 85後の通常の100回試験
35 2 87 makita TRUE 通常の1回試験
36 2 88 makita TRUE RUN ID 87後の通常の100回試験
37 2 89 Kondo FALSE B-0-3, B-1-3, B-0-2, B-1-2はDAC=0のみ。B-0-7, B-1-7, B-0-9はinvalid register valueのみ。
38 2 90 Sube FALSE 89のlong run
39 2 91 hashimoto FALSE ミス
40 2 92 hashimoto FALSE ミス
41 2 93 Sube FALSE 90のASD swap (B-0-7でPP1-4と5-8をswap)
42 2 94 Kondo FALSE 追試（1回試験）
43 2 95 Kondo FALSE 追試（100回試験）
44 2 96 Kondo FALSE PSB198のメザニンをNo.998→No.86に載せ替え
45 2 Hashimoto FALSE いろんな追試ボード試験: 1回
46 2 97 Hashimoto FALSE いろんな追試ボード試験: 10000回
47 3 98 otsubo 通常の1回試験 のつもりがSDカード（B-0-8）のパーティションテーブルが読めなくなりスレーブのlogが消えた→後に復旧し、log抽出済み
48 3 99 otsubo 通常の100回試験 のつもりが10000回試験になっていて、途中で止めた。240回ほど回した のつもりがSDカード（B-0-8）のパーティションテーブルが読めなくなりスレーブのlogが消えた→後に復旧し、log抽出済み
49 3 100 tagami 通常の1回試験
50 3 101 tagami ミス
51 3 102 tagami 通常の100回試験
52 3 103 tagami 通常の1回試験
53 3 104 tagami 通常の100回試験
54 3 105 tagami 通常の1回試験
55 3 106 tagami 通常の100回試験
56 3 107 tagami 通常の1回試験
57 3 108 tagami 通常の100回試験
58 3 109 makita ミス
59 3 110 makita B1-1のGNDをきちんと接続した（PSBIDはB1-1以外てきとう）
60 3 111 makita CP11とCP12をスワップ（PSBIDはB1-1以外てきとう）
61 3 112 makita ASDをB1-1であまっていたASDと交換→直った！
62 3 113 makita ASDのスワップを元に戻して検証（差し直しor悪いASDがいるを切り分け）→直った。差し直しで改善はするが差し直しごとに悪くなりがちなやつがいる。このASDの組はつかわないようにする。ラベルしておいた
63 3 114 makita ミス
64 3 115 makita ASDを改善して再度108の100回試験を行う
65 3 116 tagami 通常の1回試験　のはずがB-1-7が試験開始しないバグ発生、やり直し
66 3 117 tagami 通常の1回試験（station 1 JatHubのパワーサイクル、B-1-7のリカバリーLED確認）
67 3 118 tagami 通常の100回試験
68 3 119 tagami ミス
69 3 120 tagami 通常の1回試験
70 3 121 tagami 通常の100回試験
71 3 122 kmaki 通常の1回試験
72 3 123 kmaki ミス
73 3 124 kamki 通常の100回試験
74 3 125 tagami ミス
75 3 126 tagami 通常の1回試験
76 3 127 tagami 通常の100回試験
77 3 128 tagami 通常の1回試験
78 3 129 tagami 通常の100回試験
79 3 130 mizuochi 通常の1回試験
80 3 131 mizuochi 通常の100回試験
81 3 132 tagami 1回試験追試。メザニン交換5台＋clock test fail+power fail+健康なもの×3
82 3 133 tagami 100回試験追試。メザニン交換5台＋clock test fail+power fail+健康なもの×3
83 3 134 mizuochi ミス
84 3 135 tagami clock skew測定用試験 B-0-1
85 3 136 mizuochi clock skew測定用試験 B-1-1