PSBoardDataBase/test/input/PS board QAQC Data Base - RUNLIST.csv

Campaign ID,Run ID,Shifter name,is standard run,comment
1,38,Izumiyama,TRUE,Station1 が開始10分くらいで落ちた。
1,39,Izumiyama,TRUE,Run 38 後に station1 系統を再起動して、1回試験を再度試した
1,40,Izumiyama,TRUE,Run 39 の long run
1,51,Hashimoto,FALSE,Only Clock試験を実施
1,55,Otsubo,FALSE,PSBoardの電源を入れていなかった。Efficiency 99%のステーション/JATHub依存性を調べるために、まず問題の再現を100回試験で試す。
1,56,Otsubo,FALSE,Efficiency 99%のステーション/JATHub依存性を調べるために、まず問題の再現を100回試験で試す。
1,57,Otsubo,FALSE,問題が再現され、特定のASICのチャンネルで問題が見られることから、シグナルケーブルを上下でスワップして再度走らせる。
1,58,Sube,FALSE,PS000206でauto_reconfigが1にならないため、SDを再度培養して1回試験を走らせる。
1,59,Sube,FALSE,PS000206でauto_reconfigが1になることを確かめられたため、再度100回試験を走らせたが、途中で停電のため停止。
1,60,Sube,FALSE,PSB電源入れ忘れのためストップ
1,61,Sube,FALSE,PSBIDミスのため、試験開始前にストップ
1,62,Sube,FALSE,"停電復旧後、PS000206,PS000076,PS000221,PS000135で試験"
2,66,hashimoto,TRUE,QA/QC第1弾でFirmwareだけ書いていた新規ボードのソフトウェア試験と、ASDスワップ試験
2,67,hashimoto,TRUE,QA/QC第1弾でFirmwareだけ書いていた新規ボードのソフトウェア試験と、ASDスワップ試験のlong run
2,68,sue,TRUE,ソフトウェアリセット修正版のFirmware試験(2024_7_31.svf)
2,69,sue,TRUE,ソフトウェアリセット修正版のFirmware試験(2024_7_31.svf)のlong run
2,70,kondo,TRUE,"ソフトウェアリセット修正版のFirmwareだとLockがかからないので、
元のFirmware(2024_7_23.svf)に戻したlong run"
2,71,sube,TRUE,"ソフトウェアリセット修正版のFirmwareだとLockがかからないので、
元のFirmware(2024_7_23.svf)に戻した1回試験。以降は、2024_7_23.svfで実施"
2,72,sube,TRUE,通常の1回試験
2,73,sube,TRUE,Run ID 73後の通常の100回試験
2,74,sube,TRUE,B-0-8でSFP入れ間違い
2,75,sube,TRUE,通常の1回試験
2,76,sube,TRUE,Run ID 75後の通常の100回試験
2,77,hashimoto,TRUE,ミス
2,78,hashimoto,TRUE,通常の1回試験
2,79,hashimoto,TRUE,ミス
2,80,hashimoto,TRUE,Run ID 78後の通常の100回試験
2,81,sube,TRUE,通常の1回試験
2,82,sube,TRUE,Run ID 81後の通常の1回試験
2,83,kondo,TRUE,通常の1回試験
2,84,kondo,TRUE,Run ID 83後の通常の1回試験
2,85,makita,TRUE,通常の1回試験
2,86,makita,TRUE,RUN ID 85後の通常の100回試験
2,87,makita,TRUE,通常の1回試験
2,88,makita,TRUE,RUN ID 87後の通常の100回試験
2,89,Kondo,FALSE,"B-0-3, B-1-3, B-0-2, B-1-2はDAC=0のみ。B-0-7, B-1-7, B-0-9はinvalid register valueのみ。"
2,90,Sube,FALSE,89のlong run
2,91,hashimoto,FALSE,ミス
2,92,hashimoto,FALSE,ミス
2,93,Sube,FALSE,90のASD swap (B-0-7でPP1-4と5-8をswap)
2,94,Kondo,FALSE,追試（1回試験）
2,95,Kondo,FALSE,追試（100回試験）
2,96,Kondo,FALSE,PSB198のメザニンをNo.998→No.86に載せ替え
2,,Hashimoto,FALSE,いろんな追試ボード試験: 1回
2,97,Hashimoto,FALSE,いろんな追試ボード試験: 10000回
3,98,otsubo,,通常の1回試験 のつもりがSDカード（B-0-8）のパーティションテーブルが読めなくなりスレーブのlogが消えた→後に復旧し、log抽出済み
3,99,otsubo,,通常の100回試験 のつもりが10000回試験になっていて、途中で止めた。240回ほど回した のつもりがSDカード（B-0-8）のパーティションテーブルが読めなくなりスレーブのlogが消えた→後に復旧し、log抽出済み
3,100,tagami,,通常の1回試験
3,101,tagami,,ミス
3,102,tagami,,通常の100回試験
3,103,tagami,,通常の1回試験
3,104,tagami,,通常の100回試験
3,105,tagami,,通常の1回試験
3,106,tagami,,通常の100回試験
3,107,tagami,,通常の1回試験
3,108,tagami,,通常の100回試験
3,109,makita,,ミス
3,110,makita,,B1-1のGNDをきちんと接続した（PSBIDはB1-1以外てきとう）
3,111,makita,,CP11とCP12をスワップ（PSBIDはB1-1以外てきとう）
3,112,makita,,ASDをB1-1であまっていたASDと交換→直った！
3,113,makita,,ASDのスワップを元に戻して検証（差し直しor悪いASDがいるを切り分け）→直った。差し直しで改善はするが差し直しごとに悪くなりがちなやつがいる。このASDの組はつかわないようにする。ラベルしておいた
3,114,makita,,ミス
3,115,makita,,ASDを改善して再度108の100回試験を行う
3,116,tagami,,通常の1回試験　のはずがB-1-7が試験開始しないバグ発生、やり直し
3,117,tagami,,通常の1回試験（station 1 JatHubのパワーサイクル、B-1-7のリカバリーLED確認）
3,118,tagami,,通常の100回試験
3,119,tagami,,ミス
3,120,tagami,,通常の1回試験
3,121,tagami,,通常の100回試験
3,122,kmaki,,通常の1回試験
3,123,kmaki,,ミス
3,124,kamki,,通常の100回試験
3,125,tagami,,ミス
3,126,tagami,,通常の1回試験
3,127,tagami,,通常の100回試験
3,128,tagami,,通常の1回試験
3,129,tagami,,通常の100回試験
3,130,mizuochi,,通常の1回試験
3,131,mizuochi,,通常の100回試験
3,132,tagami,,1回試験追試。メザニン交換5台＋clock test fail+power fail+健康なもの×3
3,133,tagami,,100回試験追試。メザニン交換5台＋clock test fail+power fail+健康なもの×3
3,134,mizuochi,,ミス
3,135,tagami,,clock skew測定用試験 B-0-1
3,136,mizuochi,,clock skew測定用試験 B-1-1